OPMER Metroloji

-A +A

Üretilen parçaların hassas boyut ölçümleri ve yüzey form ölçümleri yapılması amacıyla gerekli metroloji sistemleri sırasıyla koordinat ölçüm sistemi ve yüzey profilometresi olmak üzere OPMER altyapısında mevcuttur. Bunlara ek olarak yüksek hassasiyette üretilen prizma, poligon ve kama gibi parçaları açısal ölçümlerini yapmak üzere goniyometre de bulunmaktadır.

Hassas optik üretiminde kapsamlı ve yüzeye tahribat vermeden metroloji çözümleri sunan optik metroloji sistemleri ( optik profilomtre ve lazer interferometre) OPMER altyapısında yer almaktadır.

İnce film karakterizasyonunda önemli bir yere sahip ayna ve/veya filtrelerde kullanılan çeşitli kaplamaların optik özelliklerini belirlemede kullanılan elipsometre, spektrofotometre ve Fourier dönüşümlü kızılötesi spektrofotometre (FTIR) cihazları da altyapıda yer almaktadır.

Yüzey Profili ve Yüzey Kalitesi Ölçümleri

Taylor Habson PGI Dimension:

PGI Dimension, sığ ve dik küresel olmayan lenslerin ve <2 mm'den 300 mm çapa kadar olan 3D formların hassas form ölçümü için kullanılan bir yüzey profil ölçüm cihazıdır. Çapı 60 mm’ye kadar olan lensler için 85 dereceye kadar dik ölçüm yapabilme yeteneğine sahiptir. Cihazın ölçüm hasasiyeti 2 nm’dir Spheric ,aspheric ve diffractive yüzey formlarını ölçüm yeteneğine sahiptir.
 

ZYGO Verifire Lazer İnterferometre:

ZYGO'nun Verifire interferometre sistemi, plano veya küresel yüzeylerin hızlı ve hassas bir şekilde ölçülmesini sağlar. Cam veya plastik optik bileşenleri düz, lens ve prizmalar gibi ve ayrıca hassas işlenmiş metal ve seramik yüzeyleri ölçümü gerçekleştirilebilir. Plano yüzeyler içi 4’’ TF ile 102 mm çapa kadar plano yüzey ölçümü gerçekleştirilmektedir. Şuan bünyemizde bulunan TF ve TS ‘ler aşağıdaki tablo belirtilmiştir.
 

Transmission Eleman

Fiziksel Çap ()

  •  

Yüzey Kalitesi

Transmission Flat - Dynaflect

  1.  
  •  
  1.  

Transmission Flat

  1.  
  •  
  1.  

Transmission Sphere

  1.  
  1.  
  1.  

Transmission Sphere - Dynaflect

  1.  
  1.  
  1.  

Transmission Sphere - Dynaflect

  1.  
  1.  
  1.  

Transmission Sphere

  1.  
  1.  
  1.  

Transmission Sphere - Dynaflect

  1.  
  1.  
  1.  

Transmission Sphere

  1.  
  1.  
  1.  

Transmission Sphere

  1.  
  1.  
  1.  

Transmission Sphere

  1.  
  1.  
  1.  

 

ZYGO Zegage Optik İnterferometre:

ZeGage  optik profilleyici , hassas işlenmiş yüzeylerde 3D formun ve pürüzlülüğün nicel ölçümleri için kullanılan bir cihazdır. 4 nm profil hasasiyeti ve 0.1 nm yüzey pürüzlüğü ölçüm hassasiyetine sahiptir. Temassız ölçüm yeteneği ve 1x-2.75x-20x-50x büyütmeli objektifleri ile hassas profil ölçümü ve yüzey pürüzlülüğü ölçümü için kullanılır.

 

Optik ve Mekanik Hassas Geometrik Ölçümler

 

PrismMaster 300 HR Gonyometre:

Cihaz prizmaların, poligonların ve takozların açısal ölçümleri için yüksek hassasiyetli ve çok yönlü bir otomatik gonyometredir. Cihaz  +/- 0.5 yaysaniye hassasiyete sahiptir.

Coordinate Measurement Machine Hexagon (CMM) - Leitz Infinity:

Hassas optiklerin ve karmaşık geometrilere sahip parçaların yüzey form ölçümlerini ultra-yüksek hassasiyet ( 1 metre mesafede 0.3 mikron hassasiyet) ve güvenilirlik ile gerçekleştirir. Özel pnömatik damper sistemi ile titreşimden etkilenmeden tutarlı ölçümler alınabilir. 800 mm’ye kadar arttırılabilir dokunsal sersörler ile çok farklı boyutlarda parça ölçme yeteneğine sahiptir. Ultra hassas optik sensörleri ile kaplamalı hassas optiklerin yüzeyini bozmadan form ölçümü yapılmasına olanak sağlar.

 

Kaplama Ölçüm Sistemleri

Elipsometre J.A Woollam M-2000

Tek ve çok katmanlı kaplamalar için hem kalınlık hem de kırılma indisini karakterize eden; yansıma önleyici, yansıma önleyici veya dekoratif kaplamalar. Farklı aydınlatma koşullarında kaplama istifinizin renk koordinatlarını hesaplar. Opmer bünyesinde yer alan tam otomatik elipsometre sistemi hızlı ve kesin örnek hizalama olanağı sunar. Geliş açısı 44° ile 90° arasında 0.02° hassasiyet ile farklı açılarda ayarlanabilir. Azami örnek boyutu 300 mm çap ve azami örnek kalınlığı 20 mm’dir. 370 nm’den 1000 nm kadar uzanan geniş bir spektral aralığı kapsamaktadır.

 

Spektrofotometre Perkin Elmer – Lambda 950

3.300 nm'ye kadar dalga boyları için ultra yüksek UV / Vis / NIR performansı, yüksek hassasiyetli ölçümler ve yüksek yansıtıcı ve yansıma önleyici kaplamalar, renk düzeltme kaplamaları, UV, Vis ve NIR filtrelerin bant geçirgenliği gibi uygulamalar için kullanılır. 175nm’de 3300 nm’ye kadar geniş bir aralıkta ölçüm alabilmektedir. UV ve görünür bölgede 0,05 nm, NIR bölgede ise 0,20 nm hassasiyet ile ölçüm yapabilmektedir.

 

FTIR Perkin Elmer – Frontier Optica

En yüksek doğruluk gerektiren optik filtre ölçümleri için özel olarak tasarlanmış ve kaplamaların spektrumun kızılötesi bölümündeki ölçümlerini gerçekleştiren spektrofotometredir. Lityum tantalat (LiTaO3) orta kızıl ötesi detektör sayesinde 10.000:1 sinyal gürültü oranına sahiptir. 7800 – 350 cm-1 aralığında 0.4 cm-1 çözünürlük ile ölçüm alma kabiliyetine sahiptir.