
Çevresel test sonrası BDK üzerindeki komponentlerin ısıl değerlerinin takibi ile arızalı komponent tespiti ve BDK’nın değerlendirilmesi sağlanır.


Devre elemanlarının iç metalik yapıları ve reflow tekniği ile yapılan BDK lehim bağlantı yapılarının incelemeleri için X-ışını ile görüntüleme tekniği kullanılmaktadır.
X-Işını tekniği kullanılarak;

Stereo Mikroskop (1-2) ile baskı devre kartlarının ve lehim bağlantılarının uygunluğu değerlendirilmektedir. Bu kapsamda;